X-선 회절장치 II (분말용) (X-Ray Diffractometer II)
원리 및 특징
X-선 회절분석기는 고전압으로 하전된 전자가 타겟에 충돌할 때 발생하는 단색 X-선을 시료에 조사하여 이때 발생되는 회절빔을 검출하고, 회절빔의 각도를 해석하여 결정구조를 해석하는 장비로 세라믹, 금속, 분말, 고분자 물질등 다양한 재료의 결정구조를 해석할 수 있다.
주요구성 및 성능
Cu ka target, 40kV, 30mA
이용분야
금속, 세라믹등의 벌크재료, 고분자 재료등 재료, 기계, 화학, 물리등 소재의 전반에 걸쳐 이용가능