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원자힘현미경(AFM) (Atomic Force Microscope)
예약현황 분석의뢰신청
원자힘현미경2
모델명 및 규격 : XE-100 /
제작회사 및 국가 : Park Systems / 한국
설치장소 : [101호] 투과전자현미경실 Ⅱ (FE-TEM)
이용수가 :
Contact, Non-C AFM(시료) - 36,000원
MFM,FMM,I-AFM,EFM(/시료) - 70,000원
1시간 초과(/시간) - 20,000원
1point(/point) - 8,000원
이미지(/장) - 5,000원
탐침(C,NC) 일체형 실비(/개) - 100,000원
기타 기능은 담당자와 협의 - 0원
담당자 : 유정훈 ( yoojh@cwnu.ac.kr )
TEL. 055-213-2554 | H.P. 055-213-2554
원리 및 특징
-. 대기중에서 극초정밀 분해능으로 시료표면 관찰
-. 원자 수준의 분해능으로 3차원 입체구조 분석
주요구성 및 성능
- XY scanner : 50um * 50um
- Z scanner : 12um
- Resolution : 0.15nm
이용분야
- Contact AFM, Non Contact AFM
- Phase image, Heating control(~250℃)
- MFM, EFM, LFM, FMM, I-AFM 등
특성화분야
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